在粉體的靜電噴涂工藝中，電阻率是一個(gè)重要參數(shù)。在一定的粒度范圍內(nèi)，以粉體的電阻率為主要控制參數(shù)可以獲得 佳質(zhì)量的涂層。因此，準(zhǔn)確而迅速地測定粉體的電阻率對于指導(dǎo)粉體靜電噴涂工藝過程是十分重要的。

粉體電阻率的測量方法很多，其中具有代表性的有平行圓盤法、探針法、同心圓筒法。由于影響粉體電阻率的因素很多，不同的測量方法和測量條件往往使測量結(jié)果相去甚遠(yuǎn),所以迄今為止對于粉體電阻率的測量還沒能建立起一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。我們在“SiOz粉的靜電噴涂”實(shí)驗(yàn)研究中，采用了粉體的“三電極測量系統(tǒng)”這種裝置體積小,測試速度快，所需的粉樣量少，有良好的重復(fù)性。

試驗(yàn)儀器

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司生產(chǎn)的ZST-212體積表面電阻率測試儀和粉體電極測量系統(tǒng)

試驗(yàn)條件和方法

體積電阻由于易吸潮和易受溫度的影響，測量工作是將粉在20C，RH50%左右的環(huán)境中靜置24小時(shí)之后再進(jìn)行的。考慮到高絕緣材料加壓后電流隨時(shí)問衰減而漸趨定值，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)均采用一分鐘時(shí)的讀數(shù)值，測量電壓取500伏。另外，全部實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)均是同一試樣二次測量的平均值。

結(jié)果分析

體積電阻率隨壓力的增大而減小，其范圍大約在一個(gè)數(shù)量級內(nèi)。